定製化夾具（jù）
根據客戶的測試需求，定製相關夾具：
1、自定義背板/連接（jiē）器，國內外分立電阻電容電感器件， 自研芯片、線纜等測試夾具
2、符合測（cè）試標準，精確測量客戶待測物的真實性能
3、可根據測試場景選擇TRL/ISD/AFR等多種去嵌方法，均能完全去除夾具的影響，去嵌精度:回損-40dB@67GHz，插（chā）損±0.1dB@67GHz
國產（chǎn）分立器件測試夾具
5G天線連接器夾具測試
去嵌精度&測試精度
去嵌方式對比
可以使用（yòng）多種不同的去嵌方式實現（xiàn）測試產品DUT，均能保證高精度的去嵌測試
TRL校準精度
TRL去嵌精度做到50Ghz+，IL小於±0.1db，RL小於（yú）-35db。
仿測校準案例
帶SMA頭的仿真測試（shì）擬（nǐ）合
插損回損擬合
TDR阻抗擬合